361. Water -respirces engoneerong
پدیدآورنده : /Ray K. Linsley, Jr,Joseph B. Franzini.
کتابخانه: سازمان اسناد و كتابخانه ملی جمهوری اسلامی ایران (تهران)
موضوع : آب , -- مهندسی
رده :
TC
۱۴۵
/
ل
۹
و
۲ ۱۳۵۱
362. Wilderness of wildlife tourism
پدیدآورنده : \ edited by Johra Kayeser Fatima, PhD
کتابخانه: کتابخانه زبانهای خارجی و منابع اسلامی (قم)
موضوع : Wildlife watching industry.,Wildlife-related recreation.,Ecotourism.,صنعت تماشای حیات وحش
رده :
G156
.
5
.
E26
W537
2017
E-Book
,
363. Wireless AI :
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع : Wireless communication systems. ; Artificial intelligence. ; Internet of things. ; Indoor positioning systems (Wireless localization) ;
364. Women and politics: France, India and Russia
پدیدآورنده : /Edited by Bharati Ray
کتابخانه: سازمان اسناد و كتابخانه ملی جمهوری اسلامی ایران (تهران)
موضوع :
365. X-Ray diffraction studies on the deformation and fracture of solides
پدیدآورنده :
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (اردبیل)
موضوع : Strains and stresses- Measurement,X-rays-Diffraction
رده :
TA417
.
25
.
X73
1993
366. X-ray absorption in bulk and surfaces: Jaipur, India, August 18-20, 1992
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتي شريف (تهران)
موضوع : Congresses ، Grenz rays,Congresses ، X-ray absorption near edge structure
رده :
QC
482
.
G68
.
X73
1994
367. X-ray analysers in process control
پدیدآورنده : Ken Carr-Brion
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اطلاع رسانی دانشگاه شاهد (تهران)
موضوع : Process control,X-ray spectroscopy- Industrial applications
رده :
TS
،
156
.
8
،.
C37
،
1989
368. X-ray and electron probe analysis in biomedical research
پدیدآورنده : Edited by K. M., Earle and A. J. Tousimis
موضوع : X-ray spectroscopy,Probes(Electronic instruments)
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
369. X-ray and neutron dynamical diffraction
پدیدآورنده : / edited by Andrae Authier, Stefano Lagomarsino, and Brian K. Tanner
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : X-rays, Diffraction, Congresses,Neutrons, Diffraction, Congresses,X-ray crystallography, Congresses,Interferometry, Neutron, Congresses
رده :
QC482
.
D5
X68
,
1996
370. X-ray diffraction studies of membranes
پدیدآورنده : Levine, J K
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه الزهراء (س) (تهران)
موضوع : ، Membranes )Biology(,، X-rays- Diffraction
رده :
QD
506
.
P76
371. X-ray diffraction studies on the deformation and fracture of solids
پدیدآورنده : edited by Keisuke Tanaka, Shotaro Kodama, Toru Goto
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Measurement ، Strains and stresses,Diffraction ، X-rays
رده :
TA
417
.
25
.
X73
1993
372. X-ray diffraction studies on the deformation and fracture of solids.
پدیدآورنده : edited by Keisuke tanaka, Shotaro Kodama, Toru Goto
موضوع : Strains and stresses- Measurement,X-rays- difraction
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
373. X-ray diffraction topography
پدیدآورنده : Tanner, B. K.)Brian Keith(
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتي شريف (تهران)
موضوع : ، X-ray crystallography
رده :
QD
945
.
T36
1976
374. X-ray diffraction topography
پدیدآورنده : Tanner, Brian Keith
کتابخانه: كتابخانه پردیس علوم دانشگاه تهران (تهران)
موضوع : ، X-ray crystallography
رده :
QD
945
.
T36
375. X-ray diffraction topography
پدیدآورنده : Tanner, Brian keith
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : ، X-ray crystallography
رده :
QD
945
.
T36
376. X-ray metrology in semiconductor manufacturing
پدیدآورنده : Bowen, D. Keith )David Keith(
موضوع : ، Semiconductors-- Design and construction Quality control,، Integrated circuits-- Measurement,، Semiconductor wafers-- Inspection,، X-rays-- Diffraction,، Fluroscopy
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
377. X-ray metrology in semiconductor manufacturing
پدیدآورنده : / D. Keith Bowen, Brian K. Tanner
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Semiconductors--Design and construction--Quality control,Integrated circuits--Measurement,Semiconductor wafers--Inspection,X-rays--Diffraction,Fluroscopy
رده :
TK7874
.
58
.
B69
2006
378. X-ray metrology in semiconductor manufacturing
پدیدآورنده : / D. Keith Bowen, Brian K. Tanner
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (اردبیل)
موضوع : Semiconductors- Design and construction- Quality control,Integrated circuits- Measurement,Semiconductor wafers- Inspection,X-rays- Diffraction,Fluroscopy
رده :
TK7874
.
58
.
B69
2006
379. X-ray metrology in semiconductor manufacturing
پدیدآورنده : / D. Keith Bowen, Brian K. Tanner
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Semiconductors , Design and construction , Quality control,Integrated circuits , Measurement,Semiconductor wafers , Inspection,X-rays , Diffraction,Fluroscopy
رده :
E-BOOK
380. X-ray spectroscopy: An introduction
پدیدآورنده : B. K. Agarwal
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد شهید مطهری دانشگاه ولی عصر(عج) (کرمان)
موضوع : X-ray spectroscopy
رده :
QC
482
.
S6
,
A34
1991